OpenLight宣布推出首款PDK采样器

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新产品可为实验室测试提供灵活性，并能够提高PIC设计精度，从而加快上市时间 加利福尼亚州山景城2023年3月3日 /美通社/ -- 为提高对工艺技术的熟悉程度并增加光子集成电路（PIC）的可及性，OpenLight 今日宣布全面推出其工艺设计套件（PDK）采样器。 该PDK采样器是一款独特的芯片级PIC，其中包含OpenLight的标准PDK元件，令客户能够在自家实验室内全面测试PDK元件并验证模型，从而在PH18DA流片中实现一次成功。 其元件包括OpenLight异构激光器、光放大器、100G PAM4 EAM调制器，以及高塔半导体PH18DA工艺中的其他有源和无源元件。 OpenLight PDK采样器 新工艺技术的采用通常涉及一条陡峭的学习曲线，对客户而言是一项常见挑战，尤其是伴随着硅光子学领域的最新进展。 这款全新行业产品为客户提供了一条捷径，令其可以在定制PIC设计流片之前，获取直接来自实